本チェックシートは、半導体ウェハ検査工程においてAI外観検査を活用できる可能性や、導入によって期待できる効果を確認するための簡易診断シートです。
品質・コスト・納期（QCD）の課題や検査工程の状況、データ活用環境などの観点から、自社の検査工程がAI外観検査に適しているかを確認できます。
チェック項目への回答結果から、AI外観検査の導入可能性や導入優先度の目安を把握できますので、導入検討の第一歩としてご活用ください。